11月4日下午，由深圳市科學(xué)技術(shù)協(xié)會(huì)主辦，深圳市物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì)承辦的以“UHF RFID讀寫(xiě)器及應(yīng)用測(cè)試規(guī)范及方法”為主題的《自主創(chuàng)新大講堂---星火沙龍之物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)大講堂系列活動(dòng)（10場(chǎng)）》深圳市南山區(qū)科技園社區(qū)長(zhǎng)園新材料港5棟1樓成功開(kāi)講?，F(xiàn)場(chǎng)共吸引了60多位物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域?qū)I(yè)的技術(shù)研發(fā)人員前來(lái)交流學(xué)習(xí)。

本期講座主講嘉賓羅海濤，從2002年開(kāi)始從事電子測(cè)試及研發(fā)工作，在測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域擁有十多年的豐富經(jīng)驗(yàn)，現(xiàn)于深圳市唐領(lǐng)科技有限公司擔(dān)任總經(jīng)理一職。

本講課程，羅老師圍繞超高頻RFID的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，RFID系統(tǒng)測(cè)試的重難點(diǎn)等內(nèi)容進(jìn)行專題分享與討論。羅老師從RAIN RFID的概述入手，從RFID測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始講起，介紹了“RAIN RFID標(biāo)簽性能及規(guī)范性測(cè)試方法”和“RAIN RFID讀寫(xiě)器性能及規(guī)范性測(cè)試”；著重強(qiáng)調(diào)并分享了“RAIN RFID系統(tǒng)測(cè)試中需要特別留意的關(guān)注點(diǎn)”。

在講座中，羅老師重點(diǎn)分享了RAIN RFID標(biāo)簽/讀寫(xiě)器的性能及規(guī)范性測(cè)試的方法。

在標(biāo)簽部分，羅老師從傳統(tǒng)的測(cè)試方式開(kāi)始，引出標(biāo)簽性能測(cè)試的主要流程及測(cè)試中需要測(cè)試的激活功率、讀距、反向功率、反向距離、操作距離、場(chǎng)強(qiáng)等主要參數(shù)，并且特別指出測(cè)試中需要著重關(guān)注“校準(zhǔn)（以便提高測(cè)試的精度，了解環(huán)境干擾的頻點(diǎn)等內(nèi)容）”、“對(duì)參考讀寫(xiě)器發(fā)射功率和接收靈敏度數(shù)據(jù)設(shè)置的確認(rèn)”；同時(shí)還分享了讀取范圍和影響范圍的極限因素及規(guī)范性標(biāo)簽與真實(shí)產(chǎn)品的不同點(diǎn)等內(nèi)容。

在讀寫(xiě)器性能測(cè)試部分，羅老師重點(diǎn)分享了不同參數(shù)、相位、BLF的不耐受性對(duì)讀寫(xiě)器靈敏度的影響。

講座最后，羅老師與眾嘉賓分享了本次講座的重點(diǎn)：RAIN RFID系統(tǒng)性能主要依賴于“標(biāo)簽的最小功率和反向強(qiáng)度”、“讀寫(xiě)器的發(fā)射功率和接收靈敏度”、“影響識(shí)別率和讀取范圍的協(xié)議設(shè)置及軟件”等方面的性能；在測(cè)試中至少需要獲得到“標(biāo)簽與讀寫(xiě)器之間通信的實(shí)際內(nèi)容”及“Q值、響應(yīng)次數(shù)、沖突次數(shù)等”相關(guān)信息。

講座的精彩之處在于，羅老師每一個(gè)重點(diǎn)知識(shí)點(diǎn)分享完成后都與嘉賓們一同探討了該方面的實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中的困難點(diǎn)，并且給出了相應(yīng)的參考解決方案或可參考解決方向。

回顧整場(chǎng)講座，大部分參與人員表示受益良多，并希望以后有更多機(jī)會(huì)參加此類活動(dòng)。